• 第37回光学シンポジウム　デモ実施　小型フィゾー干渉計

  

  2012年6月14日(木)～6月15日(金) に東京大学生産技術研究所（目黒区駒場）で行われる光学シンポジウムへデモ機を出展。

  最終更新日：2012/05/02

• 赤外線ディテクタ

  

  最先端のSCD社製赤外線ディテクタ。アナログ、デジタルの画像信号を出力する画像エンジンボードも併せて供給可能なため、カメラモジュールとして使用でき、日中・夜間を問わず照明なしで不審者や侵入者の監視が行えます。空港、プラント、基地など重要施設の監視、沿岸警備、夜間監視といった用途に最適です。

  最終更新日：2012/04/11

• 非接触光学面粗さ測定機 nanoCam

  

  0.1オングストロームの分解能と1/1000オングストロームの繰返し再現性を持つ粗さ測定機です。業界で最も汎用的に使われているMountain Mapとの完全互換ができ、さらにMetroProやCodeV、Zemaxなどのデータフォーマットがそのまま読み書き出来る専用ソフトウェア4Sightによる計測が可能で、現在お使いの計測システムへの導入も容易です。

  最終更新日：2012/05/02

アイ・アール・システムの取り扱い製品一覧へ→