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干渉計システム/干渉計分析ソフトウェア

最終更新日2011/08/17

高速計測の干渉計システム 信頼性の高い干渉計分析ソフトウェア

米国ESDI社では、フィゾー干渉計において独自の同時フェーズ・シフト技術を開発し、計測の飛躍的な高速化に成功しました。これによって、光学パーツの表面形状(球面、非球面)や透過波面、また機械加工部品などの表面形状を、マイクロ秒〜秒オーダーの速さで計測することを実現し、さらに設置環境の振動の影響を受けずに計測する技術を確立しました。

干渉計システム/干渉計分析ソフトウェア

干渉計システム/干渉計分析ソフトウェア

干渉計システム/干渉計分析ソフトウェア 基本情報

米国ESDI社のシアリング干渉計は、1〜8mmの小径ビームの波面とコリメーションのリアルタイムでの可視化を特徴としていて、点回折干渉計でも、リアルタイムでの波面計測を可能にする同時フェーズ・シフト技術を採用しています。

なお、フィゾー干渉計に付属する干渉分析ソフトウェア“Intelliwave”は、高速のデータ収集を特徴とし、インタフェログラム解析、波面解析に対して高度かつ豊富な機能を用意しています。中でも非球面レンズの解析では、サブナイキスト干渉方式を採用し、従来の大きな波面スロープの計測に対する限界を解消しています。
このソフトウェアは、他社製の従来のフェーズ・シフト方式の干渉計に対応させることも可能で、ソフトウェアのみの販売も行います。

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発売日 取扱い中
型番・ブランド名 Intelliumシリーズ
用途/実績例 従来のフィゾー干渉計では困難であった大口径パーツの計測、プロセス装置への組み込みによるIn−situ計測が実現できるようになり、光学分野だけでなく半導体ウェハの表面形状計測にも応用できます。

Intelliumシリーズの代表的なラインナップは以下の通りです。
●Intellium H2000
同時フェーズ・シフト技術を搭載し、高速かつ振動に影響を受けないフィゾー干渉計
●Intellium Asphere
最速の非球面対応フィゾー干渉計
●Intellium SBSI
シアリング干渉計、小径ビーム用波面アナライザー
●Intellium PDI
点回折干渉計、振動に強い自己参照型

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