JFE商事エレクトロニクス株式会社 第二営業部計測機器営業室 (公式サイト)

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JFE商事エレクトロニクス株式会社 第二営業部計測機器営業室 最新ニュース

JFE商事エレクトロニクス株式会社 第二営業部計測機器営業室 注目製品情報

  • 表面粒子(パーティクル)測定器 QIIIシリーズ
    QIII は真空プロセス装置のチャンバーなどの表面上微粒子(パーティクル)を手軽に測定する為の計測器です。ダミーウェーハ等を利用した従来のパーティクル管理方法と比較して、真空引きが不要な為、装置メンテナンス後の清浄度管理にかかる時間を大幅に削減。クリーニング作業と真空引きの繰り返しを未然に防ぎ、製造装置の稼働率を大幅に向上させます。また、従来の方法ではパーティクルの管理が出来なかった取り外し不可能な部品などの測定も、現場で迅速に行えます。 チャンバーや構成部品などの迅速な清浄度管理の他、クリーンルームへの持込品などの管理にも使用できます。 QIII Ultraは感度0.1μmを有してますので、洗浄部品の出荷検査や受入検査にも最適です。従来の検査方法に比べて、検査時間の大幅な短縮化が狙えます。 QIII Ultra、QIII Maxを利用する事で、生産性の向上・コスト削減・歩留まり向上に大きく寄与。清掃基準の明確化、品質基準のバラツキを抑える効果も得られます。
    最終更新日:2016/05/20
  • ハンドヘルド式蛍光X線元素分析装置 
    ハンドヘルド式蛍光X線元素分析装置 Non-Alloy Versionの製品画像です
    現場での使用に最適な小型軽量設計。操作も簡単ですぐにお使い頂けます。
    最終更新日:2016/05/02

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