最終更新日:
2024-11-18 14:36:52.0
第3世代のゼーマン補正により、幅広い濃度のサンプル測定が可能に！
最適な補正を行えるように磁場強度は最大1.0テスラまで可変設定できます。また、従来のゼーマン補正（2フィールドモード; オン、オフ）だけでなく、3フィールドモード（オフ、中、高磁場）が可能になり、測定濃度範囲をmg/Lオーダーまで拡大し、アプリケーション領域が飛躍的に拡充されました。
【特長】
■8ランプチェンジャーで試料処理能力が向上
■シングルおよびダブルビームの切り換えが可能
■D2バックグラウンド補正、第三世代のゼーマンバックグラウンド補正
■コード化ランプのためのRFIDツール搭載
■液体試料だけでなく、固体試料の直接測定が可能
■独自の交差加熱型グラファイトファーネスが理想的な原子化を実現
■最適な原子化と灰化温度、2フィールド/3フィールドバックグラウンド補正が理想的な測定を実現
■検量線の直線性領域を拡張する独自の可変磁場3フィールドモード
■グラファイトチューブ内の試料の注入・乾燥を観察できる内蔵カメラ
■最適なフレーム測定を約束するバーナー高さ自動調整機能
基本情報
■ランプ：ホロカソードランプ8本
■測光方式：ダブルビーム光学系
■波長範囲：185~900 nm
■バックグラウンド補正：磁場強度可変交流ゼーマン補正またはD2補正
| 価格情報 | - |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | ZEEnitシリーズ |
| 用途／実績例 | 詳細は、お問い合わせ下さい。 |
ラインナップ
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| ZEEnit 700 P | フレーム・ファーネス両用機 アクセサリーの追加で以下の分析も可能です。水素化物発生装置を使用した水素化物分析。固体サンプラーによる固体ファーネス分析 |
| ZEEnit 600 P | ファーネス分析専用器 アクセサリーの追加で以下の分析も可能です。水素化物発生装置による水素化物分析。固体サンプラーによるファーネス固体分析。 |
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