上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。
高性能・高品質な計測を支える JTAGバウンダリスキャンテスト！
LTE測定器の検査に、「JTAGバウンダリスキャンテスト」を導入したお客様をご紹介します。
当製品を導入することにより、Ｘ線検査では検出することができないハンダ不良やパターン不良を通電試験で確実に見つけることが可能になりました。
また、大規模なFPGAとDDRメモリを組み合わせたシステムは、ファンクションテストでは不良箇所を特定できず、製造ラインへのフィードバックが困難でしたが、当製品を採用して、製造品質を改善することができました。
【事例】
■アンリツ株式会社
・情報通信の分野で事業を展開し、計測ソリューションをグローバル
に提供
■課題
・ファンクションテストでは不良箇所を特定できず、製造ラインへの
フィードバックが困難
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アンドールシステムサポート株式会社 自動テストソリューション事業部
