アンドールシステムサポート株式会社

自動テストソリューション事業部

2016-10-03 00:00:00.0
JTAGテスト入門セミナー - 第238回 2016年12月 7日 水曜日

JTAGテストセミナー イメージ

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セミナー・イベント   掲載開始日: 2016-10-03 00:00:00.0

最近、組込み製品の基板が複雑化、高度化しており、改めて注目されている JTAGバウンダリスキャン・テストを分かり易く解説します!

【セミナー内容】
1. JTAGバウンダリスキャンテスト概要
 JTAGバウンダリスキャンアーキテクチャ紹介と活用される分野

2. JTAGバウンダリスキャンテストが登場した背景
 LSIのパッケージの高密度実装にともなう変遷
 BGAの実装不良と小型化・高密度化による課題
 部品内蔵基板やTSV技術による3D LSI/2.5 LSIの概要

3. 実装基板の検査手法と特徴
 各テスト手法が検出可能な故障タイプ
 インサーキットテスト / ファンクションテスト / X線検査 / 自動外観検査(AOI)との補完

4. JTAG ProVisionデモンストレーション
 基板の実装検査を行う手順を実機のデモを交えて紹介します。

5. JTAGテストの国内導入企業と課題解決事例
 開発現場での活用と開発期間短縮
 製造現場での活用と検査コスト削減
 サービス現場での活用と修理コスト削減

開催日時 2016年12月07日(水)
01:30 ~ 17:00
会場 会場:
 アンドールシステムサポート株式会社 東京本社

交通:
 京浜急行・新馬場駅南口より徒歩 6分(各駅停車・横浜方面改札)
 京浜急行・青物横丁駅より徒歩 10分(急行・特急・各駅停車)
 りんかい線・品川シーサイド駅より徒歩10分(各駅停車)

住所:
 〒140-0004 東京都品川区南品川2-15-8

電話番号:
 03(3450)7201
参加費 無料

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