エア・ブラウン株式会社

電子機器部

PIND試験装置 微粒子衝撃雑音検出装置

最終更新日: 2013-02-22 16:49:24.0
デバイスの異物粒子を検出。一時間当たり2000部品以上の試験が可能。

オシロスコープの輝線上に表れるスパイクとしての視覚的な判別ができます。
スピーカーより音質変化による聴覚的な判別、調整された検出レベルの
トリガーでのFAILランプの点灯による判別も可能です。
規格試験MIL-STD-883、MIL-STD-750、MIL-STD-220に適合します。

その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

基本情報

【仕様】
○振動
周波数:サイン波27~265Hz
加速度:0~20Gピーク
加振機:22.7kgf、19mmp-p、190cm/sec
増巾器:240W
最大搭載重量:20G ピーク時、200グラム
○衝撃
作用時間:サイン波100μsec以下
加速度:1000±200G、0~2000G調整
アプリケーション:オート or マニュアル
軸:振動と同じ
○検出器
ウルトラソニックトランスデューサー:感度-77.5±3dB
増巾器:60±2dB@155±5KHz 10mV ピークノイズ以下
閾値検出:2プリセット検出レベル 0~無限
○コントローラー
タイプ:デジタル多重送信型
連続衝撃:1~4回連続 16プログラム
テスト時間:16プログラム
オートスタート:9プログラム
システムクロック:0.25~4Hz調整

●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせ下さい。

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型番・ブランド名 PIND試験装置 微粒子衝撃雑音検出装置
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