株式会社アートレイ

SONY製センサ採用 InGaAsカメラシリーズ

最終更新日: 2020/08/31

  • カタログ

400~1700nmの近赤外線領域に高い感度を有するInGaAs(インジウムガリウムヒ素)イメージセンサの近赤外線カメラです。

【用途】
◆ シリコンウェハー観察
◆ 製品パッケージなどの欠陥検査
◆ 樹脂透過による内部の検査
◆ 水分の検出
◆ 美術品の検査
◆ 異種材料の識別
◆ 近赤外線ビームの観察、検査
◆ 太陽光パネルのEL発光検査

【特長】
◆高画素タイプの130万画素(1280×1024)タイプと32万画素(640×512)タイプの2機種をご用意
◆可視光線領域から近赤外線領域(400nm~1700nm)までの広い検出波長帯域
◆国内最速発売
◆50×47×42.7mmの世界最小超小型ボディを実現
◆5μmの画素サイズにより高精細検査が可能
◆手軽に扱えるUSB3.0接続
◆カメラリンク接続タイプも開発中
◆用途に合わせて冷却機能搭載モデルと非搭載モデルをご用意

◆ARTCAM-990SWIR-TEC冷却モデル
◆ARTCAM-990SWIR
出力画素数:1280×1024 、 有効撮像面積:6.4×5.12mm 、 フレームレート:70fps(12bit)

◆ARTCAM-991SWIR-TEC冷却モデル
◆ARTCAM-991SWIR
出力画素数:640×512 、 有効撮像面積:3.2×2.56mm 、 フレームレート:137fps(12bit)

≪共通仕様≫
画素サイズ:5×5μm
インターフェイス:USB3.0
センサメーカー:SONY
レンズマウント:Cマウント
シャッタタイプ:グローバルシャッタ
A/D分解能:12bit


◎カタログをダウンロードしていただくと、
 実際にこのカメラを使って撮影した写真のイメージをご覧いただけます。
価格 お気軽にお問い合わせください。
価格帯 その他
納期 お問い合わせください
型番・ブランド名
用途/実績例 【主な用途例】
アプリケーション事例
◆ シリコンウェハー観察
◆ 製品パッケージなどの欠陥検査
◆ 樹脂透過による内部の検査
◆ 水分の検出
◆ 美術品の検査
◆ 異種材料の識別
◆ 近赤外線ビームの観察、検査
◆ 太陽光パネルのEL発光検査

※詳しくはお気軽にお問い合わせください。
ラインアップ
型番 概要
ARTCAM-990SWIR-TEC 画素数:1280×1024(130万)、波長帯域:400-1700nm、センサー:SONY製 IMX990、冷却機能:電子式1段、撮像面積 (mm):6.4×5.12、画素サイズ (μm):5、fps:70(12bit)、寸法:71.6(W)×61.5(H)×59.5(D)mm
ARTCAM-990SWIR 画素数:1280×1024 (130万)、波長帯域:400-1700nm、センサー:SONY製 IMX990、冷却機能:なし、撮像面積 (mm):6.4×5.12、画素サイズ (μm):5、fps:70(12bit)、寸法:50(W)×47(H)×42.7(D)mm超小型ボディ
ARTCAM-991SWIR-TEC 画素数:640×512 (32万)、波長帯域:400-1700nm、センサー:SONY製 IMX991、冷却機能:電子式1段、撮像面積 (mm):3.2×2.56、画素サイズ (μm):5、fps:137(12bit)、寸法:71.6(W)×61.5(H)×59.5(D)mm
ARTCAM-991SWIR 画素数:640×512 (32万)、波長帯域:400-1700nm、センサー:SONY製 IMX991、冷却機能:なし、撮像面積 (mm):3.2×2.56、画素サイズ (μm):5、fps:137(12bit)、寸法:50(W)×47(H)×42.7(D)mm超小型ボディ

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