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JPS-9030 光電子分光装置(XPS)

最終更新日: 2023-05-30 10:21:28.0

関連情報

JPS-9030 光電子分光装置(XPS)
JPS-9030 光電子分光装置(XPS) 製品画像
【仕様】
感度(Mg Kα、300W換算):1,000,000cps以上(Ag 3d5/2の半値幅1.0eV時)
X線源:最大12kV、50mA、Mg/Alツインターゲット

※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
半導体産業、高分子材料開発・研究、品質管理等、様々な分野に!
半導体産業、高分子材料開発・研究、品質管理等、様々な分野に! 製品画像
【仕様】
◆JEM-1400Flash 電子顕微鏡
 分解能:0.2 nm (HC) 0.14 nm(HR)
 加速電圧:10-120 kV
 倍率:×10~×1,200,000(HC)、 ×10~×1,500,000(HR)

◆JPS-9030 光電子分光装置(XPS)
 感度(Mg Kα、300W換算):1,000,000cps以上(Ag 3d5/2の半値幅1.0eV時)
 X線源:最大12kV、50mA、Mg/Alツインターゲット
 入射レンズ:3段円筒型静電レンズ

◆内斜系実体顕微鏡 SMZ445/460
 光学系:内斜系(ズーム変倍式)
 接眼レンズ:Z445 E10×B(視野数21)、Z445 E15×B(視野数14)、Z445 E20×B(視野数12)
 補助対物レンズ:SM AL0.5x(作動距離181mm)、SM AL0.7x(作動距離127.5mm)
高分子材料研究、医薬品や電子・化学分野の異物分析や品質管理等に!
高分子材料研究、医薬品や電子・化学分野の異物分析や品質管理等に! 製品画像
〇JPS-9030 光電子分光装置(XPS)
 感度(Mg Kα、300 W換算):1,000,000 cps以上(Ag 3d5/2の半値幅1.0 eV時)
 X線源:最大12 kV、50 mA、Mg / Alツインターゲット
 入射レンズ:3段円筒型静電レンズ

〇JEM-1400Flash 電子顕微鏡
 分解能:0.2 nm (HC) 0.14 nm(HR)
 加速電圧:10-120 kV
 倍率:×10~×1,200,000(HC)、 ×10~×1,500,000(HR)
 最大試料傾斜角(X傾斜):±70°(HC / HR) ※オプションの高傾斜ホルダが必要です。
 
〇JCM-7000 NeoScope ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡
 写真倍率:×1.0 ~ × 100,000(128 mm × 96 mm を表示サイズとして倍率を規定)
 モニター倍率:×24 ~ × 202,168(280 mm × 210 mm を表示サイズとして倍率を規定)
 試料寸法:80mm 径
 主なオプション:EDS(元素分析装置)、ステージナビゲーションシステム、傾斜回転ホルダー

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