『micromelx neo/nanomelx neo』は、1つのシステムで
高分解能2DX線技術と3Dコンピュータ断層撮影(CT)スキャン機能を提供し、
電子機器の半導体、PCBA、リチウムイオンバッテリーなどの電子部品の
非破壊検査(NDT)を実現します。
革新的なエンジニアリングに加えて非常に高い位置決め精度を
備えており、プロセスおよび品質管理、故障解析、研究開発における
産業用電子部品のX線検査に適しています。
【特長】
■簡単にプログラムできるCADベースのμAXIを使用したマイクロメートルの
測定範囲で検査の自動化が可能
■アクティブ冷却で180 kV設定でハイダイナミックなライブイメージングを実現
■鮮明なライブイメージングと高速データ取込
■非常にダイナミックなDXRフラットパネル検知器で毎秒30フレームを実現
■オプションで10秒以内の3D CTスキャンを提供
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
尚、イプロスにご登録されている個人情報は、弊社正規代理店にも共有、ご連絡させていただく場合がございます。ご了承ください。
基本情報
【ラインアップ】
■micromelx neo 160
■micromelx neo 180
■nanomelx neo 180
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型番・ブランド名 | Waygate Technologies(ウェイゲート・テクノロジーズ) |
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