【主な特長】
○レーザーを用いた非接触で熱拡散率を測定
○有機フィルムからダイヤモンドまで評価
○高熱伝導率材料の測定が可能
【その他の特長】
○各種板状材料の測定が可能
○外形にこだわらない測定が可能
●詳しくはお問い合わせ下さい。
○レーザーを用いた非接触で熱拡散率を測定
○有機フィルムからダイヤモンドまで評価
○高熱伝導率材料の測定が可能
【その他の特長】
○各種板状材料の測定が可能
○外形にこだわらない測定が可能
●詳しくはお問い合わせ下さい。
関連情報
【主な特長】
○レーザーを用いた非接触で熱拡散率を測定
○有機フィルムからダイヤモンドまで評価
○樹脂系材料の測定も可能
【その他の特長】
○フィラー（ＡｌＮ、ＳｉＯ２、ＳｉＣ、ＣＮＴ等）と樹脂の複合材料は、配合比率で熱伝導性が大きく変化するため、熱拡散率の測定が必須
○樹脂系材料の測定も可能
→グラファイトシート
→ポリイミドシート
→シリコン系熱伝導性シート
→炭素系材料
→その他樹脂シート
●詳しくはお問い合わせ下さい。
○レーザーを用いた非接触で熱拡散率を測定
○有機フィルムからダイヤモンドまで評価
○樹脂系材料の測定も可能
【その他の特長】
○フィラー（ＡｌＮ、ＳｉＯ２、ＳｉＣ、ＣＮＴ等）と樹脂の複合材料は、配合比率で熱伝導性が大きく変化するため、熱拡散率の測定が必須
○樹脂系材料の測定も可能
→グラファイトシート
→ポリイミドシート
→シリコン系熱伝導性シート
→炭素系材料
→その他樹脂シート
●詳しくはお問い合わせ下さい。
【主な特長】
○測定内容、試料形状、表面処理に関してはあらかじめご相談の上最適な測定方法を決定
○必要な場合は秘密保持（ＮＤＡ）の契約書を送付
【その他の特長】
○熱物性顕微鏡 サーマルマイクロスコープ ＴＭ３
→測定対象：固体材料
→試料外形：□１０ｍｍ ｔ＝３ｍｍ以内（それ以外は要相談）
→表面形状：鏡面研磨が必要（微小粒子の場合は包埋が必要）
→表面処理：スパッタが必要
→参照試料
薄膜の場合は、基板上の薄膜の測定
○熱物性測定装置 サーモウェーブアナライザ ＴＡ３
→測定対象：固体材料
→試料外形：□２０ｍｍ ｔ＝０．１ｍｍ以上（それ以外は要相談）
→表面形状：極端な凹凸がないこと
→表面処理：黒化処理が必要（炭素系の材料の場合は不要）
→参照試料：不要
●詳しくはお問い合わせ下さい。
○測定内容、試料形状、表面処理に関してはあらかじめご相談の上最適な測定方法を決定
○必要な場合は秘密保持（ＮＤＡ）の契約書を送付
【その他の特長】
○熱物性顕微鏡 サーマルマイクロスコープ ＴＭ３
→測定対象：固体材料
→試料外形：□１０ｍｍ ｔ＝３ｍｍ以内（それ以外は要相談）
→表面形状：鏡面研磨が必要（微小粒子の場合は包埋が必要）
→表面処理：スパッタが必要
→参照試料
薄膜の場合は、基板上の薄膜の測定
○熱物性測定装置 サーモウェーブアナライザ ＴＡ３
→測定対象：固体材料
→試料外形：□２０ｍｍ ｔ＝０．１ｍｍ以上（それ以外は要相談）
→表面形状：極端な凹凸がないこと
→表面処理：黒化処理が必要（炭素系の材料の場合は不要）
→参照試料：不要
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※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。
株式会社ベテル 本社・工場、東京オフィス、ハドソン研究所、ベトナム工場
