最終更新日:
2024-11-03 17:36:24.0
半導体レーザ 電極部を評価！！
■絶縁層の放熱性を可視化 ■薄膜の熱伝導率を評価 ■微小領域の熱浸透率（3μm～）を評価
基本情報
半導体 電極部の熱物性評価ができます。
事例では、Au電極部の下にAl2O3の絶縁膜が存在する部分と、そうではない部分がありますが、サーマルマイクロスコープTM3で評価することで、熱浸透率の違いが観察されています。これは絶縁層による放熱性定価を可視化したことになります。
| 価格情報 | ***** 数量・測定の難易度によって価格が変動しますので、詳細はお問合せください。 |
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| 納期 |
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※ 数量によって納期が変動しますので、詳細はお問合せください。 |
| 型番・ブランド名 | 依頼測定（TM3） |
| 用途／実績例 | 半導体 電極部の熱物性評価 |
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