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【測定事例】 半導体レーザ 電極部の熱伝導性評価 【TM3】

最終更新日: 2024-05-31 11:46:42.0
半導体レーザ 電極部を評価!!

■絶縁層の放熱性を可視化  ■薄膜の熱伝導率を評価  ■微小領域の熱浸透率(3μm~)を評価

基本情報

半導体 電極部の熱物性評価ができます。
事例では、Au電極部の下にAl2O3の絶縁膜が存在する部分と、そうではない部分がありますが、サーマルマイクロスコープTM3で評価することで、熱浸透率の違いが観察されています。これは絶縁層による放熱性定価を可視化したことになります。

価格情報 *****
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型番・ブランド名 依頼測定(TM3)
用途/実績例 半導体 電極部の熱物性評価

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