ブルカージャパン株式会社

オプティクス事業部

研究開発用マルチレンジスペクトロメータ『INVENIO X』

最終更新日: 2024-03-06 10:43:27.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

関連情報

研究開発用マルチレンジスペクトロメータ『INVENIO X』
研究開発用マルチレンジスペクトロメータ『INVENIO X』 製品画像
【その他特長】
■遠赤外、近赤外、可視 / 紫外領域への拡張、フィールドアップグレード対応
■INTEGRAL干渉計とMultiTectテクノロジーにより遠赤外から可視/紫外領域までのマルチスペクトル測定を完全自動化
■高度な測定と解析に対応するOPUSソフトウェア
■さらに快適な操作環境を実現するOPUS-TOUCH R&Dソフトウェア/タッチパネルPCオプション
■ソフトウェア制御式、光入出力ポート(出力X3、入力X2)
■各種変調測定と時間分解測定を実現するラピッド、スロー、ステップスキャンオプション
■VERTEX、INVENIO 用のすべてのアクセサリおよび拡張モジュールとの互換性を完全継承
■試料室バイパス/ダイレクトエミッション光路オプション
■簡単操作で脱着が可能な試料室カバー(カスタマイズ可能)
■乾燥密閉型光学ベンチ(パージ可能)
■LEDライトバーによる洗練されたシステムステータス表示

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
Wafer ATRにおけるシリコンウェハー表面の高精度分析
Wafer ATRにおけるシリコンウェハー表面の高精度分析 製品画像
【製品特長】
<ハイエンドFT-IR:VERTEX シリーズ>
■最大限の柔軟性を持つよう設計
■アップグレードが可能な光学プラットフォームで構成

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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