最終更新日:
2024-04-08 09:34:04.0
【無料プレゼント】SAM修飾基板に関する解析について掲載しています。
有機分子の化学吸着によって形成される単分子膜、SAMに関する
研究が注目されています。
当社製品は、試料の設置後、2～3分で分光内部を真空にすることができ、
短時間で測定を開始することが可能です。
当資料では、大気の影響を除去できる真空型FT-IRを用いたIRRAS法
による、SAM修飾基板に関する解析について掲載しています。
【掲載内容】
■はじめに
■試料
■装置
■結果
■参考文献
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【製品特長】
<ハイエンドFT-IR: VERTEX シリーズ>
■最大限の柔軟性を持つよう設計
■アップグレードが可能な光学プラットフォームで構成
■当社が30年以上の長きにわたり開発し磨き続けてきた技術のすべてにおいて
頂点を結集した製品
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ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
