ブルカージャパン株式会社

オプティクス事業部

FT-NIR プロセス分光計『MATRIX-F II』

最終更新日: 2024-10-28 10:17:16.0
プロセス用途の要求を満たすFT-NIRシステム!過酷な環境にも設置可能です!

『MATRIX-F II』は、プロセスアプリケーション専用のフーリエ変換
近赤外分光計(FT-NIR)です。

革新的な設計により、高精度で一貫した分析結果、ダウンタイムの短縮、
分析メソッドの直接的な移設を実現するとともに、新たなアプリケーションの
可能性を提供。

業界標準の通信プロトコルを完全にサポートしており、上位システムにも
簡単に統合できます。

【特長】
■正確なインライン測定結果を数秒で出力
■複数の項目を同時に分析
■非破壊分析
■6ポートマルチプレクサを内蔵
■手間のかからない分析メソッドの移設

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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基本情報

【その他の特長】
■頑丈なデザイン
■イーサネット接続と業界標準の通信プロトコルに対応

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