『BEAM』は、FT-NIR分光法の利点を最大限に引き出す単一測定点専用の
NIR分光計です。
製造工程を直接かつリアルタイムでモニタリングすることで、
製造のばらつきを改善。
固体や半固体材料の測定に最適化され、パイプライン、ホッパー、
ベルトコンベヤー上に簡単に設置できます。
【特長】
■さまざまなアプリケーションに対応するFT方式の優位性
■RockSolidテクノロジーによる高い精度と長期安定性
■システムの中断を回避するデュアル光源ランプオペレーションモード
■設置が容易な小型・軽量デザイン
■過酷な環境に対応するIP65保護等級
■将来を見据えた接続性
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※9月4日(水)~6日(金)に幕張メッセ国際展示場で開催される
『JASIS2024』2024に出展いたします。
是非ブルカージャパンのブースにお越しください!
基本情報
【展示会概要】
■展示会名:JASIS 2024
■会期:2024年9月4日 (水) ~ 6日 (金)
■時間:午前10時~午後17時
■住所:千葉県千葉市美浜区中瀬2-1
■会場:幕張メッセ国際展示場
■ブース番号:7A-301
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯 | お問い合わせください |
---|---|
納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
関連カタログ
お問い合わせ
※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。
ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部