ブルカージャパン株式会社

オプティクス事業部

FT-NIRプロセス分光計『BEAM』※JASIS2024出展

UPDATE   最終更新日: 2024-12-02 08:53:04.0
受入検査から工程管理、最終製品検査までのさまざまな段階のモニタリングに活用可能!【JASIS2024出展】

『BEAM』は、FT-NIR分光法の利点を最大限に引き出す単一測定点専用の
NIR分光計です。

製造工程を直接かつリアルタイムでモニタリングすることで、
製造のばらつきを改善。

固体や半固体材料の測定に最適化され、パイプライン、ホッパー、
ベルトコンベヤー上に簡単に設置できます。

【特長】
■さまざまなアプリケーションに対応するFT方式の優位性
■RockSolidテクノロジーによる高い精度と長期安定性
■システムの中断を回避するデュアル光源ランプオペレーションモード
■設置が容易な小型・軽量デザイン
■過酷な環境に対応するIP65保護等級
■将来を見据えた接続性

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※9月4日(水)~6日(金)に幕張メッセ国際展示場で開催される
 『JASIS2024』2024に出展いたします。
 是非ブルカージャパンのブースにお越しください!

基本情報

【展示会概要】
■展示会名:JASIS 2024
■会期:2024年9月4日 (水) ~ 6日 (金)
■時間:午前10時~午後17時
■住所:千葉県千葉市美浜区中瀬2-1
■会場:幕張メッセ国際展示場
■ブース番号:7A-301

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