最終更新日:
2018-04-24 17:36:02.0
上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。
独自検査部で高精度寸法測定に対応!2Dの欠陥検査を搭載し、効率化を実現!
『FV200B』は、FCCSP基板のバンプ検査(2D・3D)を高速・高精度で
実現した装置です。
「バンプ径・ピッチ端子有無」などの2D寸法測定と「バンプ高さ・浮き・
スタンドオフ」などの3D寸法測定を1台で完結できます。
さらに照明条件を変え、複数画像を取込み検査が可能です。
【特長】
■高精度3D・2D寸法検査
■2D欠陥検査
■2種類の照明を搭載(Lowアングル照明・Midアングルシャワー照明)
■欠陥モード別に、照明の切替が可能
■2D用画像1枚+3D用画像4枚取り込みで50msec
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
お問い合わせ
※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。
株式会社安永 本社