最終更新日:
2018-04-25 10:01:39.0
上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。
CPU・APU基板欠陥検査を高精度で自動化！パッケージ基板の品質保証に貢献！
『NS2000-S』は、CPU・APU基板の上下面の微細欠陥を自動検査する
高精度PKG基板2次元外観検査装置です。
上面検査では、マルチアングル照明＋複数枚撮像で検査対象面に
フォーカスを合わせて検査画像を取り込みます。
高分解能上面検査では、マルチアングル照明＋複数枚撮像＋高分解能撮像で
C4バンプ部の微細欠陥を検出します。
【特長】
■2D高精度欠陥検査
■上面検査：マルチアングル照明＋複数枚撮像
■高分解能上面検査：マルチアングル照明＋複数枚撮像＋高分解能撮像
■下面検査：マルチアングル照明＋複数枚撮像＋Z軸連動制御
■充実したOUTPUTデータ
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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