製造工程の異なるデバイスデータを同一シートに取りまとめる事ができます。
単位系が大きく異なるデバイスも合成する事ができます。
データの構成要素違い(ポリゴンパターンや幅ライン、カスタムパッドなど)を、
スムーズに取込み、マッチングさせる事ができます。
LSIチップ⇔パッケージ⇔ボードの連携に活用できます。
■複合化した異種デバイスデータを合成して、干渉や接続を確認できます。
⇒Mネットリスト(合成モジュール全体の接続ネット)が出力できます。
■ナノ/ミクロン配線から、ミリ/メーター領域まで、同一データ上で、
設計/編集/検査する事ができます。
その他に下記の活用事例がございます。
◆半導体系の配線パターンの支援ツールにも使用できます。
⇒RDL配線/TEG評価パターン
◆機構系の一般汎用図面(DXF)の入出力も可能です。
◆複合化モジュール採用事例
3D画像センサーモジュール(ASET)
超ワイドバスメモリ3D-SiP(ASET)
光エレクトロニクス実装システム技術開発(PETRA)
※詳細は、下記「PDFダウンロード」よりカタログをご覧ください。
基本情報
製品仕様
OS:Windows 環境に準拠
メニュー表示:日本語/英語/中国語/韓国語モードの切替
データ精度:1nm
作業エリア:2000m
データベース:ASCIIで全公開 SSF(START STACK FORMAT)
専用プログラム言語: SeF(START EXECUTE FORMAT)
マルチオープンウインドウ :複数データの同時立上げ可能
インターフェース:DXF /274D/274X/BMP/GDS2/ODB++/ANF/XFL/SPD/DSN/AIF/IDF/IGES/STL
製品ラインナップ:STANDARD /SMART /BASIC /VIEW(free)
価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | CAD設計/CAM編集/データ変換/独自システム構築 |
関連カタログ
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