NIR分光計の技術仕様、測定性能に対する影響、他の分光計の技術とその利点・欠点を明らかにします！
NIR（近赤外）分光計を構築するために数多くの異なった技術が利用できます。
当資料では、FT-NIR（フーリエ変換近赤外）干渉計、回折格子モノクロメーター
及び固定回折格子検出器ダイオードアレイの各技術を比較します。
共通して使用される仕様の定義、それらの測定性能への影響、様々な分光計技術
並びに各技術の利点及び欠点について述べておりますので、ご一読ください。
【掲載内容】
■前書き
■仕様の定義
■仕様の影響
■様々な技術の説明
■様々な技術の利点及び欠点
■まとめ
■参考文献
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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