蛍光X線方式膜厚測定・素材分析器
フィッシャー社製の蛍光X線方式膜厚測定器では、オプションにより最大で23層24元素の膜厚測定を可能です。
また、膜厚測定と同時に合金メッキ等の組成分析、オプションのセルキットを用いればメッキ液の分析も可能です。
また、膜厚測定と同時に合金メッキ等の組成分析、オプションのセルキットを用いればメッキ液の分析も可能です。
『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD』
電動ステージ付きの蛍光X線式測定器！研究開発、工程解析、実験室などに好適！
最終更新日：
2021-04-08 16:18:27.0製品カタログ
『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB』
集光レンズタイプの蛍光X線式測定器！回路基板や微細構造部分の分析・測定に！
最終更新日：
2024-07-31 11:20:30.0製品カタログ
蛍光X線式膜厚測定・分析装置『X-RAY XDV-SDD』
最終更新日：
2024-07-31 11:31:48.0製品カタログ
蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ(集光レンズタイプ)』
最終更新日：
2024-07-31 11:31:04.0製品カタログ
蛍光X線式測定器『X-RAY XDV-μ LD』
最終更新日：
2024-07-31 11:32:40.0製品カタログ
