蛍光X線方式膜厚測定・素材分析器
フィッシャー社製の蛍光X線方式膜厚測定器では、オプションにより最大で23層24元素の膜厚測定を可能です。
また、膜厚測定と同時に合金メッキ等の組成分析、オプションのセルキットを用いればメッキ液の分析も可能です。
また、膜厚測定と同時に合金メッキ等の組成分析、オプションのセルキットを用いればメッキ液の分析も可能です。
蛍光X線式膜厚測定・分析装置『X-RAY XDV-SDD』
最終更新日:
2024-07-31 11:31:48.0製品カタログ
蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ(集光レンズタイプ)』
最終更新日:
2024-07-31 11:31:04.0製品カタログ
蛍光X線式測定器『X-RAY XDV-μ LD』
最終更新日:
2024-07-31 11:32:40.0製品カタログ