株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線式測定器『XDV-μ』

最終更新日: 2024-07-31 11:21:32.0

ポリキャピラリX線光学系を採用!非破壊で膜厚測定・素材分析できる!
『XDV-μ』は、ポリキャピラリX線光学系を採用した汎用性の高い
エネルギー分散型蛍光X線測定装置です。

当製品は、非常に小さい部品や構造部分を非破壊で膜厚測定・
素材分析できるように開発されました。

さらに、複雑な多層膜の測定も可能です。

【特長】
■非常に小さい部品や構造部分を非破壊で測定・分析
■複雑な多層膜の測定も可能
■微小部にX線を集光しX線強度が強い
■プログラミング可能なXYステージによる自動測定

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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