最終更新日:
2024-07-31 11:53:36.0
プリント回路基板やコネクターなどの複雑形状の小さな部品や構造部分の測定が可能
『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μLD』は、複雑な形状をより容易に測定
できるよう、測定距離をより長く設計されたロングディスタンスタイプの
ポリキャピラリ集光レンズ搭載蛍光X線測定装置です。
非常に薄い層や微小構造の膜厚測定と素材分析に適している装置。
プリント回路基板などの大きな試料においても測定しやすい構造です。
膜厚測定と素材分析を簡単にセットアップすることができます。
【特長】
■ロングディスタンスタイプ
■非常に薄い層や微小構造の膜厚測定と素材分析に適している装置
■プリント回路基板などの大きな試料においても測定しやすい構造
■膜厚測定と素材分析を簡単にセットアップ可能
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株式会社フィッシャー・インストルメンツ