最終更新日:
2024-07-17 15:07:40.0
システム全体をご提供することが可能!たくさんのICを制御可能なテスティング治具を制作
半導体・センサーメーカー様へ、センサー検査システムについてのご提案を
行った事例をご紹介します。
新しく設計開発した半導体ICのテスティング治具を作りたい、テスティング
工数の削減のため、一度にたくさんのICのテスティングを行えるように
してほしいとのご要望がありました。
そこで、FPGAを搭載したテスティングシステムをご提案。FPGAを利用して
たくさんのICを制御可能なテスティング治具を制作し納品いたしました。
テスティング工数が大幅に削減できたと大変満足いただけました。
【事例概要】
■ご要望:新しく設計開発した半導体ICのテスティング治具を作りたい
■ご提案:FPGAを搭載したテスティングシステム
■結果
・FPGAを利用してたくさんのICを制御可能なテスティング治具を制作
・テスティング工数が大幅に削減できたと大変満足いただけた
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