『AVE 2』は、特許取得済みの測定テクノロジーを搭載した高速で
正確な非接触ひずみ測定装置です。
静的試験時の優れた性能に加えて、動的試験、繰り返し試験や高速の
一方向試験にも使えるようになりました。
変位の追従能力は500mm/秒まで、繰り返し試験では20Hzまで可能。
試験片に接触することなしに材料の動的特性を研究する科学者や
技術者にとって、高速性と柔軟性を提供します。
【特長】
■多様な試験片
■同期した縦と横の動的ひずみ測定
■優柔な試験片と高速ひずみ
■非接触ソリューション
■特許取得済みのクロス偏光照明システム
■特許取得済みのCDATファン
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基本情報
【その他の特長】
■室温、高温/低温、液槽内の試験片や部品のひずみ測定が可能
■リアルタイムのデータ速度
■同期再生用、または後解析用の試験の画像をDICで記録
■アプリケーションに応じて、さまざまなマーキング方法—点、線、斑点や自然なパターン等、
測定のための各種マーキング方法を選択可能
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