sMIMによる半導体拡散層の解析
最終更新日：
2023-01-12 17:18:04.0製品カタログ
不良・物理解析
アイテスでは、分析解析・信頼性評価サービスを行っております。
ICの不良解析
最終更新日：
2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ
パワーデバイスの故障解析
さまざまなサイズ・形状のパワーデバイスに対し適した前処理を行い裏面IR-OBIRCH解析や裏面発光解析により不良箇所を特定します
最終更新日：
2023-01-12 17:18:03.0製品カタログ
TEMによる電子部品・材料の解析
TEM（透過型電子顕微鏡）は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析、結晶構造の解析等や材料評価の幅広い要求にお応えします。
最終更新日：
2023-01-12 17:18:58.0製品カタログ
クロスビームFIBによる断面観察
半導体デバイス、MEMS、TFTトランジスタなどナノスケールの精度で製造されるエレクトロニクス製品の構造解析を行う手法です。
最終更新日：
2023-01-12 17:18:58.0製品カタログ
FIB-SEMによる半導体の拡散層観察
最終更新日：
2023-01-12 17:19:00.0製品カタログ
パワー半導体の解析サービス
最終更新日：
2023-01-12 17:18:04.0製品カタログ
EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み
最終更新日：
2023-01-12 17:19:00.0製品カタログ
EELS分析手法による膜質評価
最終更新日：
2023-01-12 17:19:00.0製品カタログ
LCDパネル良品解析
最終更新日：
2023-01-12 17:19:00.0製品カタログ
LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察
最終更新日：
2023-01-12 17:19:00.0製品カタログ
SiCデバイスの裏面発光解析
最終更新日：
2023-01-12 17:19:00.0製品カタログ
静電破壊した橙色LEDの不良解析
最終更新日：
2023-01-12 17:19:00.0製品カタログ
短波長レーザを用いたSiCデバイスのOBIRCH解析
最終更新日：
2023-01-12 17:19:00.0製品カタログ
液晶パネルの不良解析
最終更新日：
2023-01-12 17:18:05.0製品カタログ
LEDの故障解析
最終更新日：
2023-01-12 17:18:04.0その他資料
発光解析のための半導体の裏面研磨
最終更新日：
2023-01-12 17:18:04.0製品カタログ
『化学分析の流れ』
最終更新日：
2023-01-12 17:18:20.0仕様書
発熱解析による電子部品の故障箇所特定
最終更新日：
2023-01-12 17:18:19.0製品カタログ
電解コンデンサのX線観察
最終更新日：
2023-01-12 17:18:20.0その他資料
積層基板の斜めCT観察
最終更新日：
2023-01-12 17:17:49.0製品カタログ
液晶パネルのTFT特性評価
最終更新日：
2023-01-12 17:19:34.0製品カタログ
FIB-SEM Helios 5 UC 導入のお知らせ
最終更新日：
2023-01-12 17:17:50.0製品カタログ
海外製ディスプレイの不良解析
最終更新日：
2023-05-26 11:34:57.0製品カタログ
海外製 液晶ディスプレイの良品解析
最終更新日：
2023-10-06 13:30:55.0技術資料・事例集
酸化物系全固体電池の故障解析事例
最終更新日：
2023-12-08 17:35:17.0技術資料・事例集
