株式会社アイテス

FE-SEM観察(Alワイヤボンディング部結晶粒観察)

最終更新日: 2023-01-12 17:18:20.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

関連情報

FE-SEM観察(Alワイヤボンディング部結晶粒観察)
FE-SEM観察(Alワイヤボンディング部結晶粒観察) 製品画像
【適応対象】
■ICパッケージ、実装・接合部品、実装基板、LSIデバイス、LCD薄膜、
 ⾦属表⾯状態、結晶粒の観察・分析など

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
SEM-EDX分析時の加速電圧の違いによる検出感度
SEM-EDX分析時の加速電圧の違いによる検出感度 製品画像
【EDX分析結果】
■加速10kVではAuめっき下層のNiは検出されていないが、加速電圧12kV以上だと
 下層のNiが検出されている
■加速電圧を上げると何故、下層の情報を検出するのか、モンテカルロ
 シミュレーションにて確認

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