株式会社アイテス

【資料】XPS(ESCA)による変色変質素材の表面分析

最終更新日: 2023-01-12 17:18:20.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

関連情報

品質技術トータルソリューション
品質技術トータルソリューション 製品画像
電子部品の企画・設計・開発段階から、量産、出荷後に至るまで、あらゆるフェーズで発生する品質問題に、長く培われた技術と経験をもとにスピーディーで的確なソリューションを提供します。
信頼性保証サービスのご紹介
信頼性保証サービスのご紹介 製品画像
■高度加速寿命試験
 内寸(最大) Φ545×L550mm
 温湿度範囲 +105~162.2℃/75~100%RH

■冷熱衝撃試験
 内寸(最大) W970×H460×D670mm
 温度範囲 -65℃~0℃/+60℃~200℃

■恒温恒湿試験
 内寸(最大) W1000×H1000×D720mm
 温湿度範囲 -70℃~+150℃/20~98%RH

■液槽冷熱衝撃試験
 試料カゴ(最大) W320×H240×D320mm
 耐荷重(最大) 10kg
 温度範囲 -65℃~0℃/+60℃~150℃
分析と化学反応機構で研究開発をアシストします!
分析と化学反応機構で研究開発をアシストします! 製品画像
【その他の特長】
<観察装置例>
■レーザーマイクロスコープ
■X線CT
■特殊SEM(ULTRA55)
■FIB-SEM

<信頼性試験装置例>
■液槽冷熱試験装置
■気槽冷熱試験装置
■恒温恒湿試験装置
■プレッシャークッカー

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
色差計による透過率、黄変度(黄色度)評価
色差計による透過率、黄変度(黄色度)評価 製品画像
【透明樹脂の測定例】
■測定サンプル
・PMMA:アクリル
・PC:ポリカーボネート
・PET:ポリエチレンテレフタレート

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『化学分析の流れ』
『化学分析の流れ』 製品画像
当社は半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える
様々なサービスを提供しております。

製品開発、不良・故障解析、信頼性評価などでお悩みの方はぜひご相談ください。
表面分析ガイド
表面分析ガイド 製品画像
【EDX(EDS)の特長】
■微小領域の元素分析
■バルク試料の分析
■SEMとの併用が可能
■元素マッピング

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XPSによるバンドギャップの簡易測定
XPSによるバンドギャップの簡易測定 製品画像
【測定例】
■Ga2O3のバンドギャップ:O1sを測定
■SiCのバンドギャップ:Si2pを測定

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結露サイクル試験
結露サイクル試験 製品画像
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