ディスクリート半導体のIOL試験 | 株式会社アイテス

企業ニュース掲載開始日: 2024-07-31 00:00:00.0

当社では「ディスクリート半導体のIOL試験」を行っています。

常温環境下にて通電ON/OFFを繰り返し行い、通電時のデバイス自身の発熱により
温度変化によるストレスをデバイスに加えます。通電OFF時(冷却時)は
ファンによる強制冷却も行います。

また、試験実施前に代表サンプルを使用し、試験温度条件に到達するように
調整を行います。加熱時の電流/時間、冷却時のファン能力/
稼働タイミングなどを調整することが可能です。

関連製品情報

ディスクリート半導体のIOL試験

小型のディスクリート半導体を対象としたIOL試験やパワーサイクル試験に対応！

当社で行っている「ディスクリート半導体のIOL試験」についてご紹介いたします。常温環境下にて通電ON/OFFを繰り返し行い、通電時のデバイス自身の発熱により温度変化によるストレスをデバイスに加えます。通電OFF時(冷却時)はファンによる強制冷却も行います。【調整条件】 ■上昇温度：125℃ ■加熱時間：5分 ■冷却時間：5分 ■ファンの駆動時間：2分 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

信頼性のトータルサポートサービス

環境試験をはじめ、非破壊観察や電気特性測定などを行っております

アイテスでは、JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じた環境試験装置を使用し、様々なエレクトロニクス製品、部品および材料の信頼性評価受託試験を承ります。電気試験をはじめ、非破壊観察やパワーサイクル試験などがございます。【環境試験】 ■高度寿命加速試験 ■恒温恒湿試験 ■冷熱衝撃試験 ■液槽冷熱衝撃試験 ■温湿度サイクル試験 ■In-Situ常時測定信頼性評価試験サービス ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

パワー半導体の解析サービス

故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします！

株式会社アイテスでは、パワー半導体の解析サービスを承っております。当社は日本IBM野洲事業所の品質保証部門から1993年に分離独立して以来、独自の分析・解析技術を培ってきました。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンドギャップ半導体も対応可能です。【特長】 ■OBIRCH解析ではSiだけでなく、SiCやGaNデバイスにも対応 ■表裏どちらからでもFIB加工可能 ■PN接合部に形成された空乏層を可視化 ■EDS、EELS分析といった元素分析も対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

パワーサイクル試験と特性評価

パワーサイクル試験装置を使用したパワーサイクル試験の受託！故障解析・分析と合わせ品質向上に協力致します

株式会社アイテスでは、シーメンス製（メンター製）のパワーサイクル試験装置を使用した、パワーサイクル試験の受託を行っています。試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能です。また、パワーデバイスの各種観察・測定にも対応しています。パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができます。【特長】 ■試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能 ■パワーデバイスの各種観察・測定にも対応 ■パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

In-Situ常時測定信頼性評価試験サービス

In-Situ常時測定信頼性評価試験サービス

In-Situ常時測定信頼性評価試験では、特性を測定しながら、ストレスを印加し信頼性評価試験を行います。 ●正確な故障時間の把握が可能　決まった時間にストレス環境より取り出して測定するリードアウト方式では、リードアウトのタイミングでしか故障の把握ができず、正確な故障発生時間を知ることはできません。　In-Situ測定では、正確な故障時間の把握ができます。 ●回復性故障の検出が可能　回復性故障は市場において重大な問題を引き起こすことがあります。　リードアウト方式ではこれら回復性故障の検出がほとんどの場合不可能ですが、In-Situ測定では回復性故障の検出が可能であり、正確な判断/判定ができます。 ●試料へのストレス印加状態の監視が可能　ストレス印加状況および測定データをリアルタイムで確認できます。

半導体製品の信頼性トータル・ソリューション

半導体製品に関わる部品・装置・材料の開発評価の困難をサポート

【試験・評価・分析・解析】　●信頼性試験　　■温度サイクル試験　　■冷熱衝撃試験　　■高温保存試験　　■高度加速寿命試験　　■プリコンディショニング　　■ホットオイル試験　　■In-situ常時測定　　■イオンマイグレーション試験　　■エレクトロマイグレーション試験　　■テストコンサルティンング　●評価試験　　■接合強度試験：プル/ シェア試験　　■機械的強度試験：振動・衝撃／落下試験／圧縮強度・ズレ強度　　■ESD / Latch Up / CDM試験　　■電気特性計測　　■塩水噴霧試験　●分析・解析　　■X線透過観察　　■超音波顕微鏡観察　　■発光解析（EMS/IR-OBIRCH）　　■走査型電子顕微鏡（SEM）　　■透過型電子顕微鏡(TEM) 　　■表面汚染分析(TOF-SIMS）　　■異物分析（FT-IR)

パワーデバイスのトータルソリューションサービス

パワーデバイスをあらゆる角度から徹底評価、検証します

■解決する力　知識と技術でかいけつに導くコンサルティング　スピード対応でお客様スケジュールを支援 ■つきとめる力　故障個所をピンポイントし可視化する技能　深い洞察力と高度かつ繊細な試料加工技術 ■特化した設備　最高180℃での液槽熱衝撃試験　パワー半導体に必須のパワーサイクル試験

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