セミナー・イベント
掲載開始日:
2024-11-11 00:00:00.0
【出展品予定品】
OptoFidelity社 AR導光板グレーティング解析システム “WG-GAT”
OptoFidelity社 R&D向け AR導光板品質の自動画像検査システム “WG-IQ”
◀社内デモ可能▶SENSOFAR Metrology社 装置組込み用非接触3D面粗さ計測装置 “S mart”
その他出展品
Lumina Instruments社 基板用 高速レーザー欠陥スキャナー ATシリーズ
Molecular Vista社 12インチ 300 mm サンプル対応 AFM-IR装置 PiFM / PiF-IR Vista300
FSM Precision社 低価格 高イメージング品質 AFM “Nanoview 1000”
CSInstruments社 伝導性リサーチ用AFM ハイエンド＆低価格 Nano-Observer
Nanoscribe社 ナノ精度 光実装 微小光学用3Dプリンタ “Quantum X align”
Skylark Lasers社 フォトルミネッセンス/ラマン分光用光源 320nm & 349nm 単一周波数 CW DPSSレーザー “NXシリーズ”
| 開催日時 | 2024年12月11日（水） ～ 2024年12月13日（金） |
|---|---|
| 会場 | 東京ビッグサイト（〒135-0063 東京都江東区有明3丁目11-1）小間番号：5432 |
| 参加費 |
無料 完全事前登録制（無料） |
お問い合わせ
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株式会社日本レーザー