株式会社ジュッツジャパン

実装基板向け 外観検査装置 技術資料

最終更新日: 2020-07-21 09:49:45.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

カタログ発行日:2016/9/12
2D/3D AOIの技術資料です
JUTZEの基板外観検査装置の技術資料です。

<目次>
♦ インライン型3D外観検査装置 ―位相シフト法を用いた3次元形状の測定
♦ インライン型2D外観検査装置 ―6チャンネル照明採用最新モデル
♦ オフライン型2D外観検査装置 ―クラストップレベルの鮮明な画像
♦ 全機種共通ソフトウェア機能画
♦ 全機種共通オプション
♦ 販売・サポート拠点

関連情報

実装基板向け 2D、3D外観検査装置
実装基板向け 2D、3D外観検査装置 製品画像
仕様の詳細につきましては、個別のページをご覧ください。

・共通オプション
- インラインデバック:ネットワークを介した別端末で、プログラミングのデバッグを行うことができます。
- リペアターミナル:ネットワークを介した別端末で、不良検出画面の目視確認と手動判定を行うことができます。
- SPC:複数装置のリアルタイムのモニタリング、基板バーコードのトレース、 製造不良の統計、NG不良の解析そして全ての種類の統計の出力など、多くの機能を持っています。
- 集中管理:ネットワークを介した別端末で、一人のオペレーターが異なる複数ラインのAOIの検査結果を一元管理できます。

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