JUTZEの基板向け外観検査装置の紹介です。
3DAOI
♦ インラインタイプ
♦ M、Lサイズに対応
♦ 隣接部品の影を作らない4方位プロジェクタ
3DSPI
♦ インラインタイプ
♦ M、Lサイズに対応
♦ コストを抑えた2方位プロジェクタ
♦ 多彩な回析ツールを装備
2DAOI
♦ インラインタイプ、オフラインタイプ
♦ M、Lサイズに対応
♦ 高速、高画質、高検出力、低価格
♦ 2020年より両面同時検査モデルを販売開始
※詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問合せください。
基本情報
仕様の詳細につきましては、個別のページをご覧ください。
・共通オプション
- インラインデバック:ネットワークを介した別端末で、プログラミングのデバッグを行うことができます。
- リペアターミナル:ネットワークを介した別端末で、不良検出画面の目視確認と手動判定を行うことができます。
- SPC:複数装置のリアルタイムのモニタリング、基板バーコードのトレース、 製造不良の統計、NG不良の解析そして全ての種類の統計の出力など、多くの機能を持っています。
- 集中管理:ネットワークを介した別端末で、一人のオペレーターが異なる複数ラインのAOIの検査結果を一元管理できます。
価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | 下記の製品向け実装基板検査に使われています。 スマートホン スマートウォッチ パソコン デジカメ 車載 その他、電子機器 |
関連カタログ
お問い合わせ
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