品名 : 高精度縦型測定機 KPE-30
測定範囲: 0-30mm
最小分解能 : 10nm(ナノメートル)
総合誤差 : <200nm(ナノメートル)
繰り返し性 : 30nm(ナノメートル)
測定システム : 光学式スケール
測定力 : 標準3N オプション 0.1Nから3N
測定チャンネル : 表示器は2チャンネルの入力が可能
インターフェース : RS232、USB仮想キーボード
本体重量 : 11kg
測定範囲: 0-30mm
最小分解能 : 10nm(ナノメートル)
総合誤差 : <200nm(ナノメートル)
繰り返し性 : 30nm(ナノメートル)
測定システム : 光学式スケール
測定力 : 標準3N オプション 0.1Nから3N
測定チャンネル : 表示器は2チャンネルの入力が可能
インターフェース : RS232、USB仮想キーボード
本体重量 : 11kg