極東貿易株式会社

Phenom ParticleX AM 粒子自動解析SEM 製品仕様

最終更新日: 2020-04-14 10:01:47.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

SEMにEDXと自動解析ソフトを統合させた装置で、数千個の異物を自動で検出し、個々の異物に対するサイズ情報と元素組成を取得します
解析パラメーター
■ 異物個数
■ 最大径、最小径、平均直径、面積、縦横比
■ 元素組成
■ 画像 その他多数

関連情報

金属3Dプリンタ用 粒子自動解析装置 ParticleX AM
金属3Dプリンタ用 粒子自動解析装置 ParticleX AM  製品画像

SEMは、付加製造法で使用される粉末の全範囲を
正確に測定できる唯一の手法です。
レーザー回折は、小さい粒子サイズ範囲における球状粒子を
測定することが出来ますが(DMLS(直接金属レーザー焼結法)及び
SLM(レーザー溶融法)プリンターとして使用した場合)、
EBM(電子ビーム溶融法)の装置を用いた場合に、
大きい粒子が誤って分類判定される可能性があります。
動画像解析では、反対に大きい粒子の測定には向きますが、
小さい粒子を測定することが出来ません。

Phenom ParticleX AMは、200nmから数mmまでの金属付加製造法で
使用される粉末のあらゆるサイズ範囲に対応可能です。

Phenom ParticleX AMは、金属3Dプリンタにおける金属付加製造法
(Metal Additive Manufacturing)で使用される粉末の
各粒子の最大直径、最小直径、周囲長、形状、真球度を測定出来ます。

●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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