本システムは、ダイオードやトランジスタ等の半導体製品の電気的特性を、
恒温槽を用いて温度及び湿度を変化させた状態で、測定・評価する為の
システムです。
パソコンから半導体パラメータアナライザや、恒温槽、各種配線の切替器等を
GP-IB制御し、測定の自動化及びデータの電子化を行います。
システム導入により、業務効率の改善、負荷の軽減といった効果が得られます。
【導入効果】
■業務効率の改善
・自動化することで業務効率がUP(試験開始後は無人運転でOK)
・高価な機器をより効率良く運用できるようにした
■負荷の軽減
・一連の環境制御を素早く自動測定する為、省エネルギー化が可能
・製品を過酷な環境にしている時間を必要最小限に抑えられた
※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【システム導入概要】
<導入背景>
■恒温槽によって環境を変化させるにはある程度の時間が掛かる為、どうしても待ち時間が発生する
■環境の変更に掛かる待ち時間はオペレータへの時間的負担も高くなり、なかなか効率の良いデータ収集が難しい
■この効率化を目的に、恒温槽やアナライザ及びスイッチユニットをPCからプログラム制御できるようにして、
プログラム上で一連の測定条件を一括設定、測定終了までを自動化する必要がある
<導入目的>
■オペレータの負荷軽減
・オペレータは測定準備としてスイッチユニット等で配線をしてソフトの設定をし、試験開始を押すだけにしたい
・後はプログラムが温湿度や配線を切替えながら自動測定し、結果がデータファイルとして記録される様にしたい
■設備の稼働率UP
・設備(恒温槽、半導体パラメータアナライザ等)を効率良く稼動させたい
■データの保管
・測定データを一括管理し、比較等に利用したい
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価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | 【用途】 ■電気・自動車関連 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
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