小型ボディに多機能を凝縮。アルマイトなどの比較的に薄い被膜厚を精度良く測定可能！データメモリ39000点もあり、統計計算機能も。
非磁性金属上の絶縁被膜厚を測定する膜厚計です。
アルマイトなどの比較的に薄い被膜厚を精度良く測定することができます。
膜厚計として充分な機能を装備しています。
自動電源ON/OFF機能、上下限設定、統計計算等16種類の各種設定が可能です。
さらに、アプリケーションメモリ（検量線メモリ）機能を採用しました。
オプション品は、「測定スタンド」や「専用プリンタ」、「データロガーソフト」など充実の品揃えです。
【特長】
■渦電流膜厚の中位モデル
■測定範囲0から～2500μｍ
■データメモリ39000点、統計計算機能
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
【特徴】
■アルマイトなどの比較的に薄い被膜厚を精度良く測定することができる
■付加機能はLE-373と同様でプリンタやコンピュータへのデータ転送、測定回数、
平均値、最大最小値、標準偏差などの簡単な統計処理が可能
■測定方式：渦電流式
■測定範囲：0〜1200μmまたは47.0mils
■測定精度
50μm未満：±1μm、50μm以上1000μm未満：±2％、 1000μm以上：±3％
■分解能：100μm未満：0.1μm、100μm以上：1μm
■適合規格：JIS K5600・H8501・H8680-2、ISO2064・2360・2808・19840、BS3900C5、ASTM B244・D7091-5・E376
■データメモリ数：39,000点
■検量線メモリ：アプリケーションメモリ：100本の検量線を記憶
■プローブ：一点接触定圧式（LHP-J）
※より詳しい掲載内容につきましては、
カタログをご覧頂くか、直接お問い合わせください。
■アルマイトなどの比較的に薄い被膜厚を精度良く測定することができる
■付加機能はLE-373と同様でプリンタやコンピュータへのデータ転送、測定回数、
平均値、最大最小値、標準偏差などの簡単な統計処理が可能
■測定方式：渦電流式
■測定範囲：0〜1200μmまたは47.0mils
■測定精度
50μm未満：±1μm、50μm以上1000μm未満：±2％、 1000μm以上：±3％
■分解能：100μm未満：0.1μm、100μm以上：1μm
■適合規格：JIS K5600・H8501・H8680-2、ISO2064・2360・2808・19840、BS3900C5、ASTM B244・D7091-5・E376
■データメモリ数：39,000点
■検量線メモリ：アプリケーションメモリ：100本の検量線を記憶
■プローブ：一点接触定圧式（LHP-J）
※より詳しい掲載内容につきましては、
カタログをご覧頂くか、直接お問い合わせください。
| 価格情報 | お気軽にお問い合わせください。 |
|---|---|
| 価格帯 | 10万円 ~ 50万円 |
| 納期 |
即日 ※ 在庫状況よって納期が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。 |
| 型番・ブランド名 | LH-373 |
| 用途／実績例 |
測定対象：非磁性金属上の絶縁被膜 下地素地：非磁性金属（アルミニウム・銅・真ちゅう等） 被膜材料：絶縁被膜（塗装、アルマイト（陽極酸化被膜）、ゴム、プラスチック、エナメル、ラッカー、樹脂、その他） |
関連ダウンロード
【非磁性金属上の絶縁被膜厚の測定に】渦電流膜厚計 LH-373
上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。
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株式会社ケツト科学研究所
