単層から多層までインラインで安定測定 今まで見れなかった<厚みムラ>が分かるフィルム厚み測定器 誕生
■今まで見れなかった”厚みムラ”を見える化
■多層フィルム各層の厚み測定を実現
■粘着層も安定測定
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価格帯 | お問い合わせください |
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型番・ブランド名 | SI-T シリーズ |
用途/実績例 | ※詳細はお問い合わせください。 |
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分光干渉変位タイプ 多層膜厚測定器 SI-Tシリーズ
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