ケイエルブイ株式会社

【非破壊検査向け】UV光源装置『SUPERLITE I04』

最終更新日: 2023-10-31 19:44:11.0

  • カタログ

蛍光探傷、磁粉探傷に適したUV光源装置

コンパクトかつ高出力。FPI(蛍光浸透探傷検査)に最適です。

≪特長≫
・コンパクト設計
・白色光を含まない純粋な紫外線の照射
・シンプルな切り替え方式(白色光/紫外線、ON/OFF)

内蔵したフィルターは、白色光を含まない純粋な紫外線を照射するため、非常に小さい内包物や傷も明確に見ることができます。

白色光のぎらつきによる不快感をなくすために、
自動アンチグレア機能が組み込まれています。

・コンパクト設計
・白色光を含まない純粋な紫外線の照射
・シンプルな切り替え方式(白色光/紫外線、ON/OFF)
・従来のランプに比べ寿命が2倍
・手動切り替え用にライトガイドにボタンを設置することも可能(オプション)
価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 ・非破壊検査(発電設備、ジェットエンジンの検査)
・蛍光浸透探傷検査(FPI)
・UV硬化樹脂、接着剤

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