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関連情報
照明受光光学系 di:8°、de:8°(拡散照明・8°方向受光)、SCI(正反射光含む)/SCE(正反射光除去)自動切替機構付き
対応規格 ISO7724/1、CIE No.15(2004)、ASTM E1164(SCI)、DIN 5033 Teil7、JIS Z 8722条件c に準拠
受光素子 デュアル32素子シリコンフォトダイオードアレイ
分光手段 平面回折格子
測定波長範囲 400 nm~700 nm
測定波長間隔 10 nm
半値幅 約10 nm
反射率測定範囲 0~175%、表示分解能:0.01%
測定用光源 パルスキセノンランプ(UVカットフィルター付き)
測定時間 約0.7秒(SCIまたはSCEで測定したとき、測定ボタンを押してから測定が完了するまでの時間)
最短測定可能間隔 約1.5秒(SCIまたはSCEで測定したとき)
無線LAN/Bluetoothモジュール(別売)を使用時は約1000回
測定径/照明径 MAV:Φ8 mm/Φ11 mm SAV:Φ3 mm/Φ6 mm(※CM-17dのみ)
*ターゲットマスク交換およびレンズ位置切替えにより変更可能
対応規格 ISO7724/1、CIE No.15(2004)、ASTM E1164(SCI)、DIN 5033 Teil7、JIS Z 8722条件c に準拠
受光素子 デュアル32素子シリコンフォトダイオードアレイ
分光手段 平面回折格子
測定波長範囲 400 nm~700 nm
測定波長間隔 10 nm
半値幅 約10 nm
反射率測定範囲 0~175%、表示分解能:0.01%
測定用光源 パルスキセノンランプ(UVカットフィルター付き)
測定時間 約0.7秒(SCIまたはSCEで測定したとき、測定ボタンを押してから測定が完了するまでの時間)
最短測定可能間隔 約1.5秒(SCIまたはSCEで測定したとき)
無線LAN/Bluetoothモジュール(別売)を使用時は約1000回
測定径/照明径 MAV:Φ8 mm/Φ11 mm SAV:Φ3 mm/Φ6 mm(※CM-17dのみ)
*ターゲットマスク交換およびレンズ位置切替えにより変更可能
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コニカミノルタジャパン株式会社 センシング事業部