高精度で扱いやすい測定システム・FreeScanUEシリーズが、クラス最高レベルの性能へと進化しました。
VDI / VDE 2634 part3に準拠した試験をパスし、320万画素の高性能センサーと、直感的なインターフェイスで、特別なトレーニングを必要とせずメトロロジークラスの測定業務をより身近なものにします。 【特徴】 ■26本にまで増えたクロスラインレーザーにより、従来モデルよりも計測スピードが37％向上 ■新開発の「フォトグラメトリモード」では、いままで経験や技術を要した数ｍ超の大型オブジェクトも、歪みを生じることなく高速に測定可能 ■「ファインスキャンモード」を新搭載。パラレル5本ラインレーザーを用いることで、固定スキャナーに匹敵する詳細度で加飾表面の取得などが可能に ■光源はすべてブルーレーザーで黒や光沢のある対象物でもスムーズに測定可能
VDI / VDE 2634 part3に準拠した試験をパスし、320万画素の高性能センサーと、直感的なインターフェイスで、特別なトレーニングを必要とせずメトロロジークラスの測定業務をより身近なものにします。 【特徴】 ■26本にまで増えたクロスラインレーザーにより、従来モデルよりも計測スピードが37％向上 ■新開発の「フォトグラメトリモード」では、いままで経験や技術を要した数ｍ超の大型オブジェクトも、歪みを生じることなく高速に測定可能 ■「ファインスキャンモード」を新搭載。パラレル5本ラインレーザーを用いることで、固定スキャナーに匹敵する詳細度で加飾表面の取得などが可能に ■光源はすべてブルーレーザーで黒や光沢のある対象物でもスムーズに測定可能
