最終更新日:
2024-01-22 10:23:40.0
今までリアルタイムで測定できなかった半導体の加速度試験が測定できます。
半導体デバイスの品質管理において、動作状況での加速度を印加し半導体デバイスの特性を測定する方法として、衝撃試験機の単独試験や振動試験機を用いた方法で行われてきました。しかし、これらの方法では印加加速度に限界があり、しかも連続的な高加速度を印加することができませんでした。
動的遠心加速度試験装置 Ｍｏｄｅｌ DAT-1は、これまでの培ってきた遠心式加速度試験装置の技術を応用し、高加速度の遠心力により印加し、半導体デバイスの特性を内部に組み込まれている無線により外部と通信し、動的特性を測定するシステムを開発しました。
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基本情報
【特長】
○遠心力に高加速度を連続的に印加
○半導体からの動作状況をリアルタイムで取り出せる
○内部に組み込まれている無線により半導体デバイスの特性を外部と通信
→動的特性を測定するシステム
○特殊モーター及び独自の回転コントロールシステム
→定加速度中における特性、動的な加速度での特性の変化も測定可能
○動的な特性測定試験に使用可能
→自動車車載用デバイス
→航空・宇宙機器で利用する半導体デバイス
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