カタログ

【分析事例】GCIBを用いたSiO2中アルカリ金属の深さ方向濃度分布評価_C0234

SiO2膜の不純物の評価

最終更新日： 2023-03-28 13:52:57.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】エポキシ樹脂の定性

TOF-SIMS分析による成分の推定が可能

最終更新日： 2016-03-01 13:46:32.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】ソフトマテリアルの断面観察と元素分析_C0244

クライオSEM観察-EDX分析で溶液試料の構造を直接評価

最終更新日： 2021-05-28 14:46:56.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】微小部XRD分析による結晶構造評価_C0246

微小領域のXRD測定が可能

最終更新日： 2023-03-29 11:33:11.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】高分子材料の結晶化度評価_C0245

昇温しながらin-situで結晶化度の評価が可能

最終更新日： 2021-05-28 14:58:21.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】高温XRDによる熱分解生成物の同定_C0239

昇温しながらin-situでXRD測定が可能

最終更新日： 2021-05-28 14:35:04.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】成膜成分のウエハ裏面への回り込み評価

ベベル部近傍にて金属成分の定量的な評価が可能

最終更新日： 2016-03-01 13:08:48.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】シリコン単結晶中の格子間原子濃度の定量

赤外吸収法により非破壊で格子間酸素・炭素濃度を定量

最終更新日： 2016-03-01 12:12:00.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】プラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査

TOF-SIMSによる高分子・樹脂･フィルムの表面改質層の最表面の評価が可能

最終更新日： 2016-03-01 12:04:29.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析_C0242

TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の深さ方向の評価が可能

最終更新日： 2021-05-28 14:42:30.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】GCIB（Arクラスター）を用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析

雰囲気制御下でのGCIBを用いた有機EL層構造および劣化層の成分評価

最終更新日： 2016-03-01 11:39:52.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】キトサンの分布評価

TOF-SIMSによる医薬品成分の可視化

最終更新日： 2016-03-01 11:32:06.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】a-Si薄膜太陽電池中のドーパント濃度分布評価

対象元素に応じて測定条件を選択

最終更新日： 2016-03-01 11:25:07.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】UVセンサ　AlGaN中不純物濃度の高精度評価

様々なAl組成のAlGaN標準試料をラインアップ

最終更新日： 2016-08-25 13:43:03.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】Si酸化膜・ITO膜中の「水」の評価

｢重水(D2O)処理」を用いた水素の深さ方向分析

最終更新日： 2016-03-01 11:09:39.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み