カタログ

【分析事例】TFT配線交差部の深さ方向分析

微小領域・ガラス基板についてもSSDPによる高精度分析が可能

最終更新日： 2016-02-15 14:31:13.0技術資料・事例集

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【分析事例】酸化物ReRAM動作領域の元素分布評価

酸化物デバイスにおける局所元素分布を酸素同位体を用いて高感度に評価

最終更新日： 2016-02-15 14:51:59.0技術資料・事例集

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【分析事例】粘着テープの残渣評価

TOF-SIMSにより表面付着物成分を同定します

最終更新日： 2016-08-24 14:41:34.0技術資料・事例集

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【分析事例】フッ素系潤滑剤・高分子の同定

汚染成分を同定し、汚染発生工程を推定

最終更新日： 2016-08-24 14:08:37.0技術資料・事例集

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【分析事例】部品表面のシミ・水はじきの原因調査

切断できない大きな部品でも表面汚染を適切にサンプリングして測定

最終更新日： 2016-02-15 14:57:03.0技術資料・事例集

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【分析事例】プリント基板上有機物系異物の評価_C0084

適切なサンプリングと顕微測定で異物周辺情報の影響を軽減

最終更新日： 2021-05-19 17:13:33.0技術資料・事例集

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【分析事例】液晶パネルの異物・汚れ成分の同定・推定

ミクロンからセンチオーダーの異物・汚れをイメージとして捉えます

最終更新日： 2016-02-15 15:06:18.0技術資料・事例集

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【分析事例】フラックスの洗浄残渣評価

微小・極薄の残渣をイメージとして促えます

最終更新日： 2016-02-15 15:08:32.0技術資料・事例集

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【分析事例】Cu表面のXPSによる酸化状態評価_0047

Cuスペクトルの成分分離、定量、膜厚算出

最終更新日： 2021-05-19 12:02:26.0技術資料・事例集

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【分析事例】TOF-SIMSによるウォーターマークの無機・有機同時評価_C0034

微小特定箇所の無機成分・有機成分を同時に測定

最終更新日： 2021-05-19 11:55:40.0技術資料・事例集

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【分析事例】バイポーラトランジスタの拡散層構造評価

ｐｎ判定を含む拡散層の構造を明瞭に観察可能

最終更新日： 2016-02-16 13:02:34.0技術資料・事例集

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【分析事例】毛髪内部の金属分布評価

TOF-SIMS分析を用いた毛髪断面の成分分布評価

最終更新日： 2016-02-16 13:05:08.0技術資料・事例集

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【分析事例】エルゴチオネインのLC/MS分析

天然物由来のアミノ酸類の収率や精製レベルを評価

最終更新日： 2016-02-16 13:06:55.0技術資料・事例集

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【分析事例】カーボン膜の構造評価

構造特定・結晶性・sp3性の評価

最終更新日： 2019-07-29 13:52:19.0技術資料・事例集

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【分析事例】リチウムイオン二次電池正極活物質の評価-LiFePO4のin-situ結晶構造測定-

XRDその場測定により、充放電過程の結晶構造評価が可能です

最終更新日： 2016-02-16 13:10:24.0技術資料・事例集

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