一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

カタログニュース

【分析事例】C60を用いたSiO2中アルカリ金属の深さ方向濃度分布評価 公開しました
アルカリ金属であるLi,Na,Kは半導体における各種故障原因の要の元素です。これらは測定時に膜中を移動してしまう可動イオンと言われており、正確な分布を得ることが困難とされてきました。
今回、スパッタイオン源にC60(フラーレン)を用いたTOF-SIMSの深さ方向分析を行うことにより、常温下の測定で…
2012-07-30 00:00:00.0カタログニュース
【分析事例】キトサンの分布評価 公開しました
キトサンは、抗菌性や保湿性などをもつため、医療、食品、化粧品、衣料品などの幅広い分野で用いられています。日常品である綿棒には、抗菌性をもたせるためキトサンを配合したものがあります。
そこで、マッピングにより可視化が可能であり、スペクトル測定により成分評価が可能なTOF-SIMSを用いて、綿棒に含ま…
2012-05-17 00:00:00.0カタログニュース
【分析事例】薄膜アモルファスSi太陽電池中のドーパント濃度分布評価 公開しました
フレキシブル薄膜Si太陽電池において、a-Si(アモルファスシリコン)中のドーパントの濃度分布を定量的に評価した事例をご紹介します。樹脂で封止されたサンプルを解体し、SIMS分析を行いました。 Bの分析(図3)では表面側の浅い箇所に存在するため、深さ方向分解能を高めて測定を行いました。
Pの分析(…
2012-05-11 00:00:00.0カタログニュース
【分析事例】UVセンサ AlGaN中不純物濃度の高精度評価 公開しました
SIMS分析において、より確かな濃度定量値を算出するには測定サンプルと組成の近い標準サンプルを用いることが不可欠です。
紫外LEDやUVセンサに用いられるAlGaNについて、Al含有量に応じたAlGaN標準試料を幅広く取り揃えたことで、より高精度にAlGaN中不純物濃度を求めることができるようにな…
2012-05-02 00:00:00.0カタログニュース
MSTブース
展示会ファインテックジャパン◆MSTブース展示のパネルをカタログで公開しました
2011年4月13日(水)~15日(金)にかけ、東京ビッグサイトにて開催されました展示会「第21回ファインテック ジャパン」では、MSTブースへ多くの方にご来場いただきましてまことにありがとうございました。

MSTブースにて展示いたしました分析事例のパネルを、カタログとして公開いたしました。
2011-05-31 00:00:00.0カタログニュース
セミコン・ジャパン 2010のMSTブース
◆カタログ追加◆MSTが昨年展示会で展示したパネルをご覧いただけます
MSTが昨年出展いたしました、下記3件の展示会にて展示いたしましたパネルをカタログとして登録いたしました。

・セミコン・ジャパン 2010
・Green Device 2010
・ネイチャーフォトニクステクノロジーコンファレンス2010

展示会にご来場いただけなかった方、MSTブース…
2011-02-17 00:00:00.0カタログニュース