カタログニュース
掲載開始日:
2012-05-11 00:00:00.0
フレキシブル薄膜Si太陽電池において、a-Si(アモルファスシリコン)中のドーパントの濃度分布を定量的に評価した事例をご紹介します。樹脂で封止されたサンプルを解体し、SIMS分析を行いました。Bの分析(図3)では表面側の浅い箇所に存在するため、深さ方向分解能を高めて測定を行いました。
Pの分析(図4)ではa-Si中に多量のHが存在して質量干渉を起こすため、高質量分解能法によりH+Siを分離してPのみを検出する条件で測定を行いました。
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分析データはリンク先をご覧ください
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関連リンク
- 【分析事例】薄膜アモルファスSi太陽電池中のドーパント濃度分布評価
対象元素の状態に応じて測定条件を選択します。詳細データはこちらからご覧ください。
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