【MSTホームページ】有機ELの分析特集 part2★TOF-SIMS分析新サービス公開 | 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

2012-06-08 00:00:00.0
【MSTホームページ】有機ELの分析特集 part2★TOF-SIMS分析新サービス公開

製品ニュース掲載開始日: 2012-06-08 00:00:00.0

MSTは、有機ELの開発を分析サービスで強力サポートいたします！
画素の高精細化に伴いパターンが微細化されてる有機ELパネルについて、積層された有機膜の各原料を推定する測定環境を整えました。
デバイス評価・劣化評価を通じて、MSTは皆様の研究開発に貢献いたします。

★★★今回紹介の分析事例★★★

・有機材料劣化成分の深さ方向分析
　～有機EL劣化層の成分評価～

・ポリイミド成分の深さ方向分析
　～有機材料の表面改質層評価が可能です～

・有機EL成分の深さ方向分析
　～微小画素領域での有機成分評価～
　【新サービスです！】
　TOF-SIMSの新スパッタ条件により、有機成分を壊さず
　深さ方向分析が可能になりました。

・有機EL材料の構造推定
　～Q-Tof型LC/MS/MSを用いた材料の構造推定事例～

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　　詳しいデータはリンク先をご覧ください！！
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［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法

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試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であることから、最表面の有機汚染の同定などに適した手法です。スパッタイオン源を用いて、深さ方向に無機・有機物の分布分析が可能です。・有機・無機化合物の構造解析・同定が可能・異物検査装置の座標データとリンケージが可能・ミクロンオーダーの微小異物から数cmまでの定性が可能・最表面を感度よく分析することが可能・イメージ分析が可能・深さ方向分析の定性分析が可能

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