製品ニュース
掲載開始日:
2014-03-06 00:00:00.0
2013年12月から2014年2月にMSTが新たに始めました分析サービスをご紹介します。
MSTでは幅広い分析手法を組み合わせ、新たなソリューションを提供してまいります。
●ダブルCsコレクタ付透過型電子顕微鏡(TEM⁄STEM)【2014年2月開始】
~原子分解能レベルでの構造観察・元素分析サービス~
●極低加速走査型電子顕微鏡(SEM)【2014年2月開始】
~ナノオーダー表面形状の高精細観察サービス~
● 最新型オージェ電子分光装置(AES)【2014年2月開始】
~高空間分解能最表面の元素分析サービス~
●走査マイクロ波顕微鏡(SMM)【2013年12月開始】
~半導体デバイス中のキャリア濃度分布評価サービス~
詳しい情報は下記URLをご覧ください
http://www.mst.or.jp/special/tech/tech036.html
関連リンク
- MST新サービスのご紹介(STEM⁄TEM・SEM・AES・SMM)
MSTの分析サービス新メニューをご紹介します
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