カタログニュース
掲載開始日:
2016-03-10 00:00:00.0
MSTホームページにて、下記分析事例2件を公開しました。
・MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの劣化解析(C0413)
・MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)について(B0221)
詳細はMSTホームページをご覧ください。
http://www.mst.or.jp/
関連リンク
- MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの劣化解析(C0413)
質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です
- MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)について(B0221)
TOF-SIMS:飛行時間型二次イオン質量分析法
- MSTホームページ
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